Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) measurements were performed on a S4160 Hitachi (Tokyo, Japan) microscope equipped
with energy dispersive X-ray spectrometry (EDS).

Results (Thai) 1:

ดำเนินการสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) วัดบนกล้องจุลทรรศน์ฮิตาชิ S4160 (โตเกียว ญี่ปุ่น) พร้อมด้วยพลังงาน dispersive เอกซเรย์ spectrometry (EDS)

Results (Thai) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) วัดได้ดำเนินการเกี่ยวกับ บริษัท ฮิตาชิ S4160 (โตเกียวประเทศญี่ปุ่น) กล้องจุลทรรศน์การติดตั้ง
ด้วยพลังงานกระจาย spectrometry X-ray (EDS)

Results (Thai) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) การวัดแสดงใน s4160 ฮิตาชิ ( โตเกียว , ญี่ปุ่น ) กล้องจุลทรรศน์อุปกรณ์
กับพลังงานรีเอ็กซ์เรย์กระจายตัว ( EDS )