As we have already discussed in the

As we have already discussed in the introduction of this paper, given the relative youth of the FPGA tech- nology, and its not yet wide acceptance in safety-related application fields, there are very few design standards specifically addressing the FPGA technology. This, to- gether with the ease and the low cost of prototyping and fixing defects, often led designers to underestimate design issues, thus causing projects failures. In order to overcome the lack of standards and to guide designers, several industrial guidelines and lessons learned from projects have been published.
Radiations, both in space and at ground level, may cause a system to fail. In particular, radiations hit- ting the silicon surface of digital circuits may alter the content of memory elements. Radiation hitting SRAM- based FPGA devices may have even worse effects, since they could permanently corrupt the contents of the con- figuration memory (until a device reconfiguration), thus changing the functionality implemented in the device

Results (Vietnamese) 1:

Như chúng ta đã đã thảo luận trong phần giới thiệu của bài báo này, cho các thanh thiếu niên tương đối của công nghệ FPGA-nology, và chấp nhận của nó không được rộng trong an toàn liên quan đến ứng dụng fields, có rất ít specifically tiêu chuẩn thiết kế địa chỉ công nghệ FPGA. Điều này, để gether với sự dễ dàng và chi phí thấp prototyping và fixing lỗi, thường dẫn nhà thiết kế để đánh giá thấp các vấn đề thiết kế, do đó gây ra thất bại dự án. Để khắc phục thiếu các tiêu chuẩn và thiết kế hướng dẫn, một số các hướng dẫn công nghiệp và các bài học kinh nghiệm từ các dự án đã được công bố.Tia phóng xạ, trong không gian và trên mặt đất, có thể gây ra một hệ thống thất bại. Đặc biệt, phóng xạ hit-ting bề mặt silicon mạch kỹ thuật số có thể thay đổi nội dung của các thành phần bộ nhớ. Bức xạ nhấn SRAM - dựa trên FPGA thiết bị có thể có effects thậm chí tệ hơn, vì họ có thể vĩnh viễn hỏng các nội dung của bộ nhớ con-figuration (cho đến khi một thiết bị reconfiguration), do đó thay đổi các chức năng thực hiện trong các thiết bị

Results (Vietnamese) 2:

Như chúng ta đã thảo luận trong phần giới thiệu của bài viết này, vì thanh niên tương đối của FPGA dược liệu, chấp nhận rộng rãi chưa trong ruộng ứng dụng fi an toàn liên quan đến, có rất ít các tiêu chuẩn thiết kế cụ thể fi biệt giải quyết các công nghệ FPGA. Điều này, gether to- với sự dễ dàng và chi phí thấp của mẫu và fi xing khuyết tật, thường dẫn thiết kế để đánh giá thấp vấn đề thiết kế, do đó gây ra các dự án thất bại. Nhằm khắc phục những thiếu các tiêu chuẩn và hướng dẫn thiết kế, một số tiêu chuẩn công nghiệp, bài học kinh nghiệm từ các dự án đã được công bố.
Bức xạ, cả trong không gian và trên mặt đất, có thể gây ra một hệ thống thất bại. Đặc biệt, bức xạ hit- ting bề mặt silicon của các mạch kỹ thuật số có thể thay đổi nội dung của các yếu tố bộ nhớ.

Results (Vietnamese) 3:

Chúng ta đã ở trên báo giới thiệu về công nghệ, với sự FPGAs can tương đối trẻ, và không có nhiều ứng dụng liên quan đến lĩnh vực an ninh và chấp nhận fi, hiếm khi có thiết kế kỹ thuật tiêu chuẩn quy phạm đất giải quyết fi FPGAs can.Nó đúng với giảm và nguyên mẫu fi Hưng khiếm khuyết của nhà thiết kế với chi phí thấp, thường là để đánh giá vấn đề dự án thiết kế, và dẫn đến thất bại.Để vượt qua tiêu chuẩn và thiết kế công nghiệp thiếu sự chỉ đạo hướng dẫn một số bài học và kinh nghiệm từ dự án đã được xuất bản.Phóng xạ, dù là trong không gian, và ở trên mặt đất, có thể dẫn đến thất bại của hệ thống.Đặc biệt là, phóng xạ, bắn trúng buồng số mạch silicon của bề mặt có thể thay đổi ký ức về hàm lượng các nguyên tố.Cuộc tấn công của thiết bị phóng xạ SRAM FPGAs can có thể tồi tệ hơn thế e ff mặt, vì họ có thể phá hỏng fi cấu hình kiểm soát nội dung bộ nhớ (cho đến khi fi cấu hình thiết bị trinh sát), để thay đổi thực hiện chức năng của thiết bị